Boletín Upiita
ESTUDIO DE LOS MECANISMOS DE FUGA DE CORRIENTE PARA LA OPTIMIZACIÓN DE DETECTORES DE InGaAsSb
Un equipo de investigadores desarrolla un modelo para optimizar la eficiencia cuántica de detectores de radiación IR en base a semiconductores III-V. Utilizan la técnica de crecimiento de epitaxia en fase líquida para obtener homouniones p-n con alta calidad cristalina.
Palabras clave:
fuga de corriente
detectores de InGaAsSb
epitaxia
semiconductores
Leer artículo
Disponible para lectura en línea y descarga